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温度传感器

Balluff温度传感器BFT 6050-HV001-R02A0A-S4介质接触式

¥:66.00

产品参数

详细参数
型号:BFT6050-HV001-R02A0A-S4输出信号:开关型
制作工艺:集成感温元件:热电阻
材料物理性质:BFT6050-HV001-R02A0A-S4材料晶体结构:BFT6050-HV001-R02A0A-S4
材质:金属测量方式:接触型
外形尺寸:1*2*3加工定制:否
测温范围:-50...150°C阻值:2000
电阻稳定系数:500精确度:0.01
灵敏度:0.01线性度:BFT6050-HV001-R02A0A-S4
迟滞:BFT6050-HV001-R02A0A-S4重复性:BFT6050-HV001-R02A0A-S4
漂移:BFT6050-HV001-R02A0A-S4

产品详情

Balluff温度传感器BFT 6050-HV001-R02A0A-S4介质接触式

主要特点测量范围-50...150 °C

测量元件Pt1000

模拟输出端模拟,电阻
接口插接器,M12x1公头,4针
安装长度,自接触面起50 mm
过程接口材料不锈钢 (1.4305)
抗压强度50 bar
环境温度-40...100 °C
防护等级IP66,IP67

许可/一致性CE, WEEE

各类辐射测温方法只能测出对应的光度温度、辐射温度或比色温度。只有对黑体(吸收全部辐射并不反射光的物体)所测温度才是真实温度。如欲测定物体的真实温度,则必须进行材料表面发射率的修正。而材料表面发射率不仅取决于温度和波长,而且还与表面状态、涂膜和微观组织等有关,因此很难精确测量。在自动化生产中往往需要利用辐射测温法来测量或控制某些物体的表面温度,如冶金中的钢带轧制温度、轧辊温度、锻件温度和各种熔融金属在冶炼炉或坩埚中的温度。在这些具体情况下,物体表面发射率的测量是相当困难的。对于固体表面温度自动测量和控制,可以采用附加的反射镜使与被测表面一起组成黑体空腔。附加辐射的影响能提高被测表面的有效辐射和有效发射系数。利用有效发射系数通过仪表对实测温度进行相应的修正,最终可得到被测表面的真实温度。

最为典型的附加反射镜是半球反射镜。球中心附近被测表面的漫射辐射能受半球镜反射回到表面而形成附加辐射,从而提高有效发射系数式中ε为材料表面发射率,ρ为反射镜的反射率。至于气体和液体介质真实温度的辐射测量,则可以用插入耐热材料管至一定深度以形成黑体空腔的方法。通过计算求出与介质达到热平衡后的圆筒空腔的有效发射系数。在自动测量和控制中就可以用此值对所测腔底温度(即介质温度)进行修正而得到介质的真实温度。

巴鲁夫温度传感器的工作原理

金属膨胀原理设计的传感器

金属在环境温度变化后会产生一个相应的延伸,因此传感器可以以不同方式对这种反应进行信号转换。双金属片式传感器双金属片由两片不同膨胀系数的金属贴在一起而组成,随着温度变化,材料A比另外一种金属膨胀程度要高,引起金属片弯曲。弯曲的曲率可以转换成一个输出信号金双金属杆和金属管传感器随着温度升高,金属管(材料A)长度增加,而不膨胀钢杆(金属B)的长度并不增加,这样由于位置的改变,金属管的线性膨胀就可以进行传递。反过来,这种线性膨胀可以转换成一个输出信号。液体和气体的变形曲线设计的传感器在温度变化时,液体和气体同样会相应产生体积的变化。多种类型的结构可以把这种膨胀的变化转换成位置的变化,这样产生位置的变化输出(电位计、感应偏差、挡流板等等)。


Balluff温度传感器BFT 6050-HV001-R02A0A-S4介质接触式